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J-GLOBAL ID:201702252997594436   整理番号:17A1244018

すれすれ入射X線散乱法により決定した有機金属ハロゲン化物ペロブスカイト膜の構造【Powered by NICT】

Structure of Organometal Halide Perovskite Films as Determined with Grazing-Incidence X-Ray Scattering Methods
著者 (2件):
資料名:
巻:号: 16  ページ: null  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2778A  ISSN: 1614-6832  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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すれすれ入射X線散乱(GIXS)法は種々の長さスケールでの薄膜の形態を研究するための価値ある資産であることが証明された。GIXSは有機金属ハロゲン化物ペロブスカイトの高速進行場に適用した。この興味あるクラスの材料は一般的に安価で持続可能な太陽光発電,発光素子,オプトエレクトロニクスの分野における研究を促進してきた。特に,ペロブスカイト太陽電池(PSC)は,電力変換効率の顕著な上昇が見られた,五年の研究の後20%マーク。本研究ニュースは,ペロブスカイト場今日の最も挑戦的な研究課題に焦点を当てたGIXS研究を概説し:PSCの電流-電圧ヒステリシス,再現性,及び長期安定性は本質的にペロブスカイト膜の形態に関連している。一方,成膜前駆体と処理パラメータの選択に依存するその相互依存は,膜形態を調整する可能性を開くものである。同調性と耐湿性のために,2dペロブスカイトは最近注目を集めている。異なる測定とデータ解析技術とGIXS研究の例を示し,関与する多くの速度論的過程に特にその場研究を強調した。GIXS技術のツールボックスに関する概観を有機金属ハロゲン化物ペロブスカイトオプトエレクトロニクス研究の特定のニーズと関連している。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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太陽電池 
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