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J-GLOBAL ID:201702253188822906   整理番号:17A1272025

モジュールレベル回帰テストのためのテスト配置の最適化【Powered by NICT】

Optimizing Test Placement for Module-Level Regression Testing
著者 (5件):
資料名:
巻: 2017  号: ICSE  ページ: 689-699  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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現代ビルドシステムは,インクリメンタルな構築と試験を行う開発者productivitybyの増大を助長する。Thesebuildシステムはinterdependentmodulesの基としてのソフトウェアプロジェクトをとthemoduleレベルでリグレッションテスト選択を行った。しかし,多くの大規模ソフトウエアプロジェクトは無駄な試験実行をもたらすimprecisedependencyグラフを有していた。Ifa試験は試験のtheactual依存性よりも多くの依存性を持つことをモジュールに属する,コード変化はこれら付加的な依存性に影響を与えるunnecessarilywhenever実行される。本論文では,モジュールの試験の準最適配置による無駄なtestexecutionsの問題を定式化した。consideringhistoricalは試験情報と実際の依存性を構築,試験運動を示唆し実行oftest数を削減する欲張りアルゴリズムを提案した。Wehaveはtopof CloudBuild,Microsoft overtheここ数年以内に開発されたビルドシステム,TestOptimizerと呼ぶ本手法を実装した。五largeproprietaryプロジェクトに関する技術を評価した。著者らの結果は,提案されたtestmovementsは全ての対象プロジェクトの二千百六十六万試験実行(17.09%)の削減をもたらすことができることを示した。は,これらのプロジェクトの開発者からencouragingfeedbackを受け,それらは著者らの報告された提案の80%を実現するandintendを認めた。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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計算機システム開発  ,  人工知能 
タイトルに関連する用語 (3件):
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