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J-GLOBAL ID：201702253508305411   整理番号：17A1491199

単層カーボンナノチューブ上へのX線照射誘起構造変化【Powered by NICT】

X-ray irradiation-induced structural changes on Single Wall Carbon Nanotubes

著者 (6件)： Bardi N. (Department of Physics, University of Surrey, GU2 7XH Guildford, United Kingdom) ,  Jurewicz I. (Department of Physics, University of Surrey, GU2 7XH Guildford, United Kingdom) ,  King A.K. (Department of Physics, University of Sussex, BN1 9RH Brighton, United Kingdom) ,  Alkhorayef M.A. (Department of Radiological Sciences, College of Applied Medical Sciences, King Saud University, Riyadh 11433, Saudi Arabia) ,  Bradley D. (Department of Physics, University of Surrey, GU2 7XH Guildford, United Kingdom) ,  Dalton A.B. (Department of Physics, University of Sussex, BN1 9RH Brighton, United Kingdom)
資料名： Radiation Physics and Chemistry  (Radiation Physics and Chemistry)
巻： 140  ページ： 34-37  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0627A  ISSN： 0969-806X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： カーボンナノチューブに基づく線量測定デバイスは有望な新技術である。特に単層に基づくデバイスを用いた炭素ナノチューブはデバイスの小型化,高規模生産と低コストのために可能性のある組織等価応答を提供するかもしれない。デバイス作製に重要な前駆体は個々のナノチューブの物理的および化学的性質に及ぼすX線照射の影響の定量的研究を必要とする。本研究では,比較的低用量,20cGy及び45cGy,それぞれの影響に集中した。はナノチューブの固有の特性に及ぼす放射線量の効果を定量化するために走査電子顕微鏡,Raman分光法,X線光電子分光法を含む一連の評価手法を使用した。特に,放射線被曝はナノチューブ結合構造のsp~2性質の低下の結果となることを見出した。さらに,著者らの解析は,曝露がナノチューブの電気的性質に影響を与える最終的増加欠陥密度を有することをナノチューブをもたらすことを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 放射線量 ,  小型化 ,  *ナノチューブ ,  *カーボンナノチューブ ,  走査電子顕微鏡 ,  *単層カーボンナノチューブ ,  電気的性質 ,  線量測定 ,  Raman分光法 ,  *X線照射 ,  欠陥密度 ,  *単一層 ,  X線光電子分光法 ,  前駆体
準シソーラス用語： *構造変化 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： カーボンナノチューブ ,  X線放射 ,  電離放射線 ,  ナノ材料 ,  XPS ,  Raman

分類 (5件)： 放射線化学反応  (CB09020M) ,  ガンマ線との相互作用  (BK16020W) ,  炭素とその化合物  (YB02060D) ,  原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  照射効果・利用  (MC01050C)

タイトルに関連する用語 (4件)： 単層カーボンナノチューブ ,  X線照射 ,  誘起 ,  構造変化