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J-GLOBAL ID：201702253624297658   整理番号：17A1721726

両面太陽電池の変調光ルミネセンス寿命測定【Powered by NICT】

Modulated Photoluminescence Lifetime Measurement of Bifacial Solar Cells

著者 (8件)： Choi Kwan Bum (Solar Energy Research Institute of Singapore, Singapore) ,  Teena Christopher Subhodayam Percis (Solar Energy Research Institute of Singapore, Singapore) ,  Ho Jian Wei (Solar Energy Research Institute of Singapore, Singapore) ,  Wang Jianqiang (Shanghai Shenzhou New Energy Development Co. Ltd., Shanghai, China) ,  Lin Jiaji (Shanghai Shenzhou New Energy Development Co. Ltd., Shanghai, China) ,  Bettiol Andrew A. (Centre for Ion Beam Applications, Singapore) ,  Aberle Armin G. (Solar Energy Research Institute of Singapore, Singapore) ,  Wong Johnson (Solar Energy Research Institute of Singapore, Singapore)
資料名： IEEE Journal of Photovoltaics  (IEEE Journal of Photovoltaics)
巻： 7  号： 6  ページ： 1687-1692  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2305A  ISSN： 2156-3381  CODEN： IJPEG8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半導体試料の光ルミネセンス(PL)発光の周波数応答は有効キャリア寿命に影響された。処理の種々の段階における太陽電池のPLを誘導し,捕捉し易いので,変調PLは生産ラインにおけるシリコンウエハ太陽電池の有効寿命の進行を追跡するための汎用技術である。メタライゼーション前と後のn型シリコン両面太陽電池試料の有効キャリア寿命を抽出するために変調されたPLの適用を実証した。非金属化試料では,変調PLとより確立されたマイクロ波光伝導減衰法により生成された寿命曲線の良い一致が見られた。単一および両面金属化試料では,推定寿命も定常状態PLイメージングによって得られたインプライド開放端電圧と一致した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 周波数応答 ,  生産ライン ,  メタライゼーション ,  発光 ,  耐用年数 ,  *太陽電池 ,  マイクロ波 ,  半導体 ,  *光ルミネセンス ,  光伝導 ,  画像処理 ,  キャリア寿命
準シソーラス用語： シリコン太陽電池 ,  開回路電圧 ,  定常状態 ,  シリコンウエハ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (5件)： 両面 ,  太陽電池 ,  変調 ,  光ルミネセンス ,  寿命測定