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J-GLOBAL ID：201702253624936930   整理番号：17A1728840

束ねたデータとリング発振器ベース設計におけるテストマージンと収量【Powered by NICT】

Test Margin and Yield in Bundled Data and Ring-Oscillator Based Designs

著者 (5件)： Zhang Yang ,  Zha Haipeng ,  Sahir Vaishnavi ,  Cheng Huimei ,  Beerel Peter A.
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ASYNC  ページ： 85-93  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： リングオシレータによる時計とデータ設計の両方は,プロセス,電圧,温度(PVT)変動の悪影響を軽減した。は,ポストシリコン調整可能なを作られた場合,出荷製品中の遅延線を成功裡に試験したものよりも遅い設定した設計への試験マージンを付加する好機を提供する遅延線に依存している。本論文では,得られた収率と出荷製品の品質損失を分析する数学的および伝統的な同期設計に,それらを比較し,遅延線と組合せ論理における経路間の遅延の相関から生じる潜在的利益を定量化した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電圧 ,  出荷 ,  *リング発振器 ,  遅延線 ,  品質

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (4件)： リング発振器 ,  設計 ,  テスト ,  収量