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J-GLOBAL ID：201702253693874234   整理番号：17A1569971

抵抗クロスポイントアレイにおける強いPUF利用ぬけ道の設計と最適化【Powered by NICT】

Design and optimization of a strong PUF exploiting sneak paths in resistive cross-point array

著者 (3件)： Liu Rui (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85281, USA) ,  Chen Pai-Yu (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85281, USA) ,  Yu Shimeng (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ 85281, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISCAS  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,デバイス認証のための抵抗性クロスポイント(X点)アレイにおける抜け道を利用する強い物理的複製不可能関数(PUF)の新しい設計を提案した。X点アレイにおけるぬけ道の絡み合いは大きく物理系のエントロピーを促進し,それによりチャレンジレスポンスペア(CRP)の空間を増加させた。「アナログ」抵抗分布を用いた場合,X点アレイにおける「ディジタル」抵抗分布を用いて,望ましくない衝突または拡散性を除去することである。X点PUFの特性をSPICEシミュレーションにより128×128クロスポイントアレイ上で評価した。シミュレーション結果は,オン状態抵抗(Ron)活性は,PUFの性能に影響を及ぼし,大きな参照電流(Iref)許容範囲の観点で最適化された設計である4%であることを示した。さらに,X点PUFは,課題と応答の間の相関を提示し,セキュリティ改善を示しなかった。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 複製 ,  ディジタル方式 ,  許容範囲 ,  からみ合 ,  シミュレーション ,  *最適化 ,  セキュリティ ,  エントロピー ,  認証 ,  アナログ系 ,  電流
準シソーラス用語： オン状態 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (2件)： 設計 ,  最適化