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J-GLOBAL ID：201702254449062054   整理番号：17A1251147

Intel SR30深さカメラの性能について:計測と臨界特性【Powered by NICT】

On the Performance of the Intel SR30 Depth Camera: Metrological and Critical Characterization

著者 (6件)： Carfagni Monica (Department of Industrial Engineering, University of Florence, Firenze, Italy) ,  Furferi Rocco (Department of Industrial Engineering, University of Florence, Firenze, Italy) ,  Governi Lapo (Department of Industrial Engineering, University of Florence, Firenze, Italy) ,  Servi Michaela (Department of Industrial Engineering, University of Florence, Firenze, Italy) ,  Uccheddu Francesca (Department of Industrial Engineering, University of Florence, Firenze, Italy) ,  Volpe Yary (Department of Industrial Engineering, University of Florence, Firenze, Italy)
資料名： IEEE Sensors Journal  (IEEE Sensors Journal)
巻： 17  号： 14  ページ： 4508-4519  発行年： 2017年 
JST資料番号： W1318A  ISSN： 1530-437X  CODEN： ISJEAZ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 特に顔分析と追跡に関連した時の使用を想定した,シーンセグメンテーション,手/指追跡,ゲーム,拡張現実感,とRGB Dカメラは,今日では3次元スキャナとしても使用した。深さカメラの正確度と精度は,専門的三次元スキャナと同等ではないにもかかわらず,それらはまだ近距離におけるリバースエンジニアリング(RE)応用のための有望なデバイスを構成し,それらの低コストによるものであった。これはより最近のデバイスのための特に真実で,例えば,RealSense SR300,市場における近接範囲深度カメラを最良であることを約束する。この新しい装置の可能性を考えると,とその性能に及ぼす深い研究への科学的文献では評価されていないため,これは3次元スキャナとして使用されているとき,この論文の主な目的は,特性化し,Intel RealSense SR300深さセンサへの計測学的考察を提供することである。この目的のために,素子センサ性能は最初のセット生得られた深さデータとカメラの最適設定で得られたセットへ両方の既存の規範的指針(すなわちドイツ技術者-ドイツ技術者協会-VDI/VDE2634の関連で公開された一)を適用して評価した。,デバイス性能のさらなる評価は,最適化されたセンサー設定を用いた文献で提案されたいくつかの戦略を適用して,三次元スキャナとして使用するための「実生活」条件を再現することにより行った。最後に,デバイスの性能は最新の短距離センサの性能と比較し,このようにして有用な指針を提供し,研究者および従業者に対して,彼ら自身のRE応用のための最適な装置のインフォームド・チョイスにおける批判的である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ドイツ連邦共和国 ,  就職 ,  キャラクタリゼーション ,  ゲーム ,  ドイツ技術者協会 ,  リバースエンジニアリング ,  *カメラ ,  センサ ,  拡張現実感 ,  最適化 ,  技術者
準シソーラス用語： 距離センサ ,  深度カメラ ,  3Dスキャナ ,  RGB-Dカメラ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 光導電素子  (NC03083X) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (3件)： 深さ ,  計測 ,  臨界