文献

J-GLOBAL ID：201702254519595640   整理番号：17A1358957

2相ガンマ劣化プロセスの信頼性モデリング【Powered by NICT】

Reliability Modeling of Two-Phase Gamma Degradation Process

著者 (2件)： Duan Fengjun ,  Wang Guanjun
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： QRS-C  ページ： 620-621  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,2相ガンマ劣化プロセスの信頼性モデリングと評価を考察した。第1と第二相中でのデバイスの劣化経路は異なるパラメータをもつガンマ過程に従うと仮定した。また,変化点を想定し,この2相ガンマ過程モデルのパラメータは,素子毎に変化した。各素子では,赤池情報量基準(A IC)を用いて,変化点を検出することであると最尤推定(MLE)法を採用し,すべての未知のモデルパラメータを推定した。パラメータのMLEは独特のものであることを見出した。さらに,ニ相ガンマプロセスモデルの信頼性関数も計算した。liqu id結合デバイス(LCD)の例を用いて,提案モデルと方法を説明するために適用した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： モデル ,  *最尤法 ,  第二相
準シソーラス用語： モデルパラメータ ,  *信頼性モデリング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 信号理論  (ND02020G) ,  信頼性  (KB04040H) ,  統計的品質管理  (KB04030W)

タイトルに関連する用語 (2件)： プロセス ,  信頼性モデリング