抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本論文では,2相ガンマ劣化プロセスの信頼性モデリングと評価を考察した。第1と第二相中でのデバイスの劣化経路は異なるパラメータをもつガンマ過程に従うと仮定した。また,変化点を想定し,この2相ガンマ過程モデルのパラメータは,素子毎に変化した。各素子では,赤池情報量基準(A IC)を用いて,変化点を検出することであると最尤推定(MLE)法を採用し,すべての未知のモデルパラメータを推定した。パラメータのMLEは独特のものであることを見出した。さらに,ニ相ガンマプロセスモデルの信頼性関数も計算した。liqu id結合デバイス(LCD)の例を用いて,提案モデルと方法を説明するために適用した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】