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J-GLOBAL ID:201702254761409473   整理番号:17A0883608

SrRuO_3/BaTiO_3/SrRuO_3コンデンサとその臨界厚さにおける強誘電性の界面制御【Powered by NICT】

Interface Control of Ferroelectricity in an SrRuO3/BaTiO3/SrRuO3 Capacitor and its Critical Thickness
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資料名:
巻: 29  号: 19  ページ: ROMBUNNO.201602795  発行年: 2017年 
JST資料番号: W0001A  ISSN: 0935-9648  CODEN: ADVMEW  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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人工酸化物ヘテロ構造の原子スケール合成は本質的に発生しない新しい状態を生成するために新しい機会を提供した。これらの構造を合成に関連する主要な課題は,設計された終結配列を持つ原子的に鋭い界面を得ることである。本研究では,成長中の酸素圧(PO2)はSrRuO_3/BaTiO_3/SrRuO_3(SRO/BTO/SRO)強誘電(FE)キャパシタの界面終端を制御するのに重要な役割を果たしていることを実証した。SRO/BTO/SROヘテロ構造をパルスレーザ蒸着法により成長させた。高PO2(約150mTorr)で成長させた,トップSRO/BTO界面は通常RuO_2~-BaOとSrO TiO_2終端の混合物を示した。PO2を低下させることにより,著者らは,均一なSrO TiO_2終端をもつ原子的に鋭いSRO/BTOトップ界面を得た。対称で均一な界面終端をもつキャパシタデバイスを用いて,FE臨界厚さは3.5単位格子の理論限界に達することができることを初めて実証した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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固-固界面  ,  酸化物薄膜 
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