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J-GLOBAL ID：201702255812400525   整理番号：17A1744601

低消費電力二重試験データ圧縮スキーム【JST・京大機械翻訳】

Low Power Multistage Test Data Compression Scheme

著者 (6件)： Chen Tian (合肥工業大学計算机与信息学院,安徽合肥 230009;合肥工業大学情感計算与先進智 能机器安徽省重点実験室, 安徽合肥 230009) ,  Yi Xin (合肥工業大学計算机与信息学院,安徽合肥 230009;合肥工業大学情感計算与先進智 能机器安徽省重点実験室, 安徽合肥 230009) ,  Wang Wei (合肥工業大学計算机与信息学院,安徽合肥 230009;合肥工業大学情感計算与先進智 能机器安徽省重点実験室, 安徽合肥 230009) ,  Liu Jun (合肥工業大学計算机与信息学院,安徽合肥 230009;合肥工業大学情感計算与先進智 能机器安徽省重点実験室, 安徽合肥 230009) ,  Liang Huaguo (合肥工業大学計算机与信息学院,安徽合肥 230009;合肥工業大学電子科学与応用物理学院,安徽合肥 230009) ,  Ren Fuji (合肥工業大学情感計算与先進智 能机器安徽省重点実験室, 安徽合肥 230009;徳島大学,日本徳島770-8506)
資料名： Dianzi Xuebao  (Dianzi Xuebao)
巻： 45  号： 6  ページ： 1382-1388  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2504A  ISSN： 0372-2112  CODEN： TTHPAG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 集積回路の製造プロセスの発展により、VLSI(Very Large Scale Integrated)回路テストはテストデータの量が大きく、テストの消費電力が高い問題に直面している。これに対して、本論文では、多段圧縮に基づく低消費電力テストデータ圧縮案を提案した。まず第一に,入力の単純化技術を用いてテストセットの前処理を行い,テストセットの数を減らし,次に,第一レベル圧縮を行い,次に,試験ベクトルをマルチスキャンによってサブベクトルに分割し,圧縮後のテストベクトルをより短い符号語で表すことができた。次に,試験データに対して低電力充填を行い,最初に電力消費を充填し,それを安全閾値内に到達させ,次に,残りの無関係なビットに対してシフト電力消費を行った。最後に,二番目の圧縮を行い,それにより,符号化圧縮を改善することができた。ISCAS89ベンチマーク回路の実験結果により,本論文で提案した方式が,golbo符号,FDR符号,EFDR符号,9C符号,BM符号などのより高い圧縮率を得ることができ,同時に,電力消費と電力消費を同時に最適化できることを示した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 最適化 ,  符号化 ,  生産工程 ,  簡素化 ,  *データ圧縮 ,  ベクトル ,  集積回路 ,  電力消費 ,  *消費電力 ,  圧縮率
準シソーラス用語： ベンチマーク回路 ,  符号語 ,  テストデータ圧縮 ,  *試験データ ,  *低電力化 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： test vector compatible ,  low power test ,  test data compression ,  multistage compression

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 低消費電力 ,  試験データ ,  スキーム