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J-GLOBAL ID：201702256543203935   整理番号：17A1276469

タイミングのフロンティア【Powered by NICT】

Frontiers of timing

著者 (1件)： Schlichtmann Ulf (Institute for Electronic Design Automation, Technical University of Munich, Germany)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SLIP  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 集積回路(IC)産業は,重要な遷移を迫っている。何十年もの間,特徴サイズの持続的ダウンスケーリングは急速に成長している統合と指数関数的に増加する回路性能を可能にした。しかしプロセス変動とデバイスエージングは集積回路の最近の開発モデルの持続可能性にますます深刻な課題となっている。,炉心性能測定基準の一つとして,タイミングは,これらの新しい課題に進化する必要がある。新しいタイミングパラダイムは既に水平線上に現れている。この論文では,プロセス変動と経年化から生じるタイミング課題をレビューした。これらの効果を考慮する技術を検討し,効率的な加齢を意識したトランジスタ/ゲートモデリングなど。ポストシリコン調整はこれらのタイミング課題に反応する有望な技術として扱われている。さらに,従来の限界を超えたタイミングを推進する技術,セットアップ時間と保持時間の相互依存性モデリングのような,をレビューした。まとめると,これらの技術はナノメータ時代におけるタイミングのための潜在的な将来のフレームワークを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： モデリング ,  指数関数 ,  *集積回路 ,  回路特性 ,  トランジスタ ,  保持時間 ,  高速度
準シソーラス用語： ナノメータ ,  相互依存性 ,  性能測定 ,  持続可能性 ,  プロセス変動 ,  ダウンスケーリング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)