MURAKAMI Eiichi について
Kyushu Sangyo Univ., Fukuoka, JPN について
ODA Kazuhiro について
Kyushu Sangyo Univ., Fukuoka, JPN について
TAKESHITA Tatsuya について
Kyushu Sangyo Univ., Fukuoka, JPN について
Japanese Journal of Applied Physics について
炭化ケイ素 について
MOSFET について
Fowler-Nordheimトンネリング について
劣化 について
高温 について
安定性 について
ゲート絶縁膜 について
完全性 について
電圧 について
電荷 について
解析モデル について
伝導バンド について
バンド構造 について
表面準位 について
キャリア移動度 について
キャリア密度 について
バイアス について
キャリア捕獲 について
電子捕獲 について
界面 について
ゲート酸化物 について
ゲート電圧 について
バンド端 について
温度安定性 について
界面状態 について
正孔捕獲 について
捕獲電荷 について
トランジスタ について
界面の電気的性質一般 について
ストレス について