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J-GLOBAL ID：201702257136773465   整理番号：17A0943206

トランジスタフラッシュメモリを用いた集積回路の同定と真の乱数【Powered by NICT】

Integrated circuit identification and true random numbers using 1.5-transistor flash memory

著者 (3件)： Clark Lawrence T. (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, United States of America) ,  Adams James (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, United States of America) ,  Holbert Keith E. (School of Electrical, Computer, and Energy Engineering, Arizona State University, United States of America)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISQED  ページ： 244-249  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 他の集積回路(IC)デバイスのような,フラッシュメモリビットは,実際と名目特性におけるランダム変動する傾向がある。消去速度変動を利用する物理的複製不可能関数(PUF)の1.5Tフラッシュメモリセルの利用を示した。セキュリティ向けメモリには,IP鋳造工場でその広い利用可能性により,物のインターネット(IOT)にとって興味あるものである。実験的に測定した結果を用いて,ヘルパーデータと誤差補正に対する限定された要求範囲あるいは高い信頼性を提供しないことを簡単な方法を示した。IC同定のための高品質フィンガープリントを実証した。アレイ応答からの系統的な変動を除去するための技術を示し,ランダム性のすべての国立標準技術研究所の試験への合格が得られた2進文字列を可能にした。,低複雑性ヘルパー機能と,真の乱数は容易に製造することができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 指紋 ,  複製 ,  文字列 ,  インターネット ,  *集積回路 ,  セキュリティ ,  誤り訂正 ,  *乱数 ,  *記憶装置 ,  信頼性 ,  鋳造工場
準シソーラス用語： ホームヘルパー ,  低複雑性 ,  ランダム性 ,  高品質 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (5件)： トランジスタ ,  フラッシュメモリ ,  集積回路 ,  同定 ,  乱数