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J-GLOBAL ID：201702257565358049   整理番号：17A0473030

類似性測定のためのKullback-Leibler発散に基づく多視点距離学習【Powered by NICT】

Multi-view metric learning based on KL-divergence for similarity measurement

著者 (6件)： Wang Huibing (School of Computer Science and Technology, Faculty of Electronic Information and Electrical Engineering, Dalian University of Technology, Dalian 116024, China) ,  Feng Lin (School of Computer Science and Technology, Faculty of Electronic Information and Electrical Engineering, Dalian University of Technology, Dalian 116024, China) ,  Meng Xiangzhu (School of Computer Science and Technology, Faculty of Electronic Information and Electrical Engineering, Dalian University of Technology, Dalian 116024, China) ,  Chen Zhaofeng (Department of Biomedical Engineering, Faculty of Electronic Information and Electrical Engineering, Dalian University of Technology, Dalian 116024, China) ,  Yu Laihang (School of Computer Science and Technology, Faculty of Electronic Information and Electrical Engineering, Dalian University of Technology, Dalian 116024, China) ,  Zhang Hongwei (School of Mathematical Sciences, Dalian University of Technology, Dalian 116024 China)
資料名： Neurocomputing  (Neurocomputing)
巻： 238  ページ： 269-276  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0360A  ISSN： 0925-2312  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 過去数十年では,様々な画像処理タスクのための学習距離計量の関心が高まっている。しかし,多視点からの特徴を用いた,最も計量学習法は,一般的な距離計量を訓練するためのマルチビュー特徴から適合と相補的情報を統合することに失敗する。大部分の情報はこれらの単一視野法,それらの性能に大きく影響するが捨てられている。最適距離計量を構築するために複数ビューからの情報を完全に利用するためにどのように極めて重要であるが挑戦的である。この問題を解決するために,本論文では,多視点からの特徴を統合するためにKL発散利用するマルチビューメトリック学習法を構築した。異なるビューから特徴間のKullback-Leibler発散の最小化複数ビューの一貫性,多視点からの情報を利用するMMLを可能にするにつながる可能性がある。いくつかのベンチマーク多視点データセット上で種々の実験は,この新しい方法の優れた性能を検証した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *学習 ,  画像処理 ,  ベンチマーク ,  距離計
準シソーラス用語： マルチビュー ,  *類似性測定 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： マルチビュー距離学習 ,  KL divergence ,  距離計量学習 ,  マルチビュー特徴

分類 (2件)： 人工知能  (JE08000Z) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 類似性測定 ,  Kullback-Leibler発散 ,  視点 ,  学習