文献

J-GLOBAL ID：201702257568551520   整理番号：17A1274843

IPDT過程のための分数次数PIDコントローラの脆弱性について【Powered by NICT】

On the fragility of fractional-order PID controllers for IPDT processes

著者 (2件)： Padula Fabrizio (Department of Mathematics and Statistics, Curtin University, Australia) ,  Visioli Antonio (Dipartimento di Ingegneria Meccanica e Industriale, University of Brescia, Italy)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： MED  ページ： 870-875  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 積分過程に適用した(最適に調整した)分数次数P(I)Dコントローラの脆弱性(安定性と性能の観点から)を研究した。,コントローラパラメータの変化の影響は,コントローラの微調整は重要な問題であるかどうかを理解するために調べた。設定点応答と負荷外乱除去タスクの両方を考察した。標準整数次数P(I)Dコントローラとの比較も行った。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 積分 ,  *制御装置
準シソーラス用語： *次数 ,  外乱除去 ,  目標値 ,  微調整 ,  *脆弱性 ,  *PIDコントローラ ,  *分数次 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： システム設計・解析  (IA02030D)

タイトルに関連する用語 (4件)： 過程 ,  分数次 ,  PIDコントローラ ,  脆弱性