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J-GLOBAL ID：201702257574012252   整理番号：17A1529761

表面品質分析における反射アルゴリズムの最適化【JST・京大機械翻訳】

Optimization Algorithm of Reflection Lines for Surface Interrogation

著者 (5件)： Xue Jie (江南大学机械工程学院,江蘇无錫,214122) ,  Ji Xiaogang (江南大学机械工程学院,江蘇无錫214122;江蘇省食品先進制造装備技術重点実験室,江蘇无錫214122) ,  Zhu Shikui (江南大学机械工程学院,江蘇无錫,214122) ,  Liu Dapeng (江南大学机械工程学院,江蘇无錫,214122) ,  He Xueming (江南大学机械工程学院,江蘇无錫214122;江蘇省食品先進制造装備技術重点実験室,江蘇无錫214122)
資料名： Jixie Kexue yu Jishu  (Jixie Kexue yu Jishu)
巻： 36  号： 3  ページ： 417-421  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2050A  ISSN： 1003-8728  CODEN： JKJIE6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 逆線法は,現在,表面品質分析の分野で広く用いられている。既存の反射線アルゴリズムの効率が低く,反射線の歪みと基準光源の相関性が強いなどの欠点に対して,距離関数モデルを最適化することにより,入射光線と光源平面の交点から基準光源線までの距離を基礎として,逆光線法の正確性と基準光源の独立性を確保した。等値線アルゴリズムにより,メッシュ表面上の反射点追跡アルゴリズムを最適化し,計算機プログラミングにより効率的に反射率を生成し,いくつかの解析例により新しいアルゴリズムの優位性を検証し,この反射線最適化アルゴリズムが表面品質を解析する有効なツールであることを示した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *最適化 ,  反射率 ,  光源 ,  *表面性状 ,  *アルゴリズム ,  計算機プログラミング
準シソーラス用語： 最適アルゴリズム ,  追跡アルゴリズム ,  等値線 ,  正確性 ,  入射光 ,  距離関数 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (10件)： algorithms ,  computational efficiency ,  efficiency ,  reflection line ,  grid computing ,  functions ,  distance function ,  surface interrogation ,  optimization algorithm ,  grid surface

分類 (2件)： 数値計算  (JE02000J) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 表面品質 ,  分析 ,  アルゴリズム ,  最適化