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J-GLOBAL ID：201702258016063458   整理番号：17A0964065

TRL法におけるスルーの長さに関する周期的測定誤差【Powered by NICT】

Periodical Measurement Error With Respect to the Length of Thru in TRL Technique

著者 (4件)： Wu Changying (School of Electronics and Information, Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China) ,  Sima Leilei (School of Electronics and Information, Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China) ,  Hou Xiangyao (School of Electronics and Information, Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China) ,  Li Jianzhou (School of Electronics and Information, Northwestern Polytechnical University, Xi’an, China)
資料名： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 65  号： 5  ページ： 1605-1614  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 試験下でのデバイスは,集中抵抗器,キャパシタ,およびインダクタである本論文では,スルー反射線路(TRL)較正技術での測定結果に及ぼす不完全接続の影響を調べた。不完全接続の影響を解析する理論的に提案した単純化された誤差伝達モデル。,解析的導出からの結果を証明し統計的に時間の十分な数を実施し数値的にシミュレーションと測定法。更なる検証を得るために,約0.9GHzでのマイクロストリップ試験装置を用いた実シナリオと測定を模倣するために市販のソフトウェアによるシミュレーションを行った。解析的導出,シミュレーションと測定は,すべてのスルーの長さは周期的に測定結果に接続誤差の影響を低減することを示した。試験装置はしばしば人工的に埋め込まれたまたはベクトルネットワークアナライザのポートからdeに埋め込まれているので,ランダム誤差は必然的に異なるTRL基準に導入し,大部分の時間は,これらの誤差は主な誤差原因である。測定誤差の周期的特性のおかげで,測定精度は特定の長さのスルーを選択することにより改善することができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 測定精度 ,  簡素化 ,  *測定誤差 ,  マイクロストリップ線路 ,  ポート ,  抵抗器 ,  試験装置 ,  コンデンサ ,  ソフトウェア
準シソーラス用語： ランダム誤差 ,  ベクトルネットワークアナライザ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N) ,  その他の電磁気的量の計測法・機器  (AD07070F)

タイトルに関連する用語 (1件)： 測定誤差