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J-GLOBAL ID:201702259517153929   整理番号:17A1784255

30MeV電子ビームによる回転タンタルターゲットによる放射線の発生を解析することにより,放射線の解析を行った。【JST・京大機械翻訳】

Analysis on bremsstrahlung characteristics of 30 MeV multi-pulse beams bombarding rotating tantalum-based target
著者 (5件):
資料名:
巻: 29  号:ページ: 75-80  発行年: 2017年 
JST資料番号: C2482A  ISSN: 1001-4322  CODEN: QYLIEL  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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高周波直線加速器に基づくマルチパルスX線写真撮影システムを提案し,材料の動的性能の診断に用いることができる流体力学的研究に適用することができた。高周波加速器の特性に基づき,このシステムは,10μs以上の時間スパン,数十から数百nsのパルス幅を有するパルス電子ビームを発生でき,電子ビーム束の半値全幅は1mm以下である。モンテカルロシミュレーションプログラムGeant4によって,特定の幾何学的配置,異なる厚さ,および電子ビーム束の条件下で,電子ビームのターゲットのエネルギー堆積,ターゲットの電子ビーム散乱,および1mの照射量を計算した。このX線写真システムの応用可能性を検討した。結果により、30MeV、400nC電子ビームの衝撃厚さが1mmのターゲット条件下で、1mの照射量は約9.1Rであり、ターゲット厚さが1~2mmの範囲内では、X線焦点の明らかな増大が起こらないことが明らかになった。小さい横方向サイズの電子ビームは,ターゲットの局所的な温度上昇を引き起こし,パルスの数を制限することができる。回転ターゲットを用いてパルスの数を上げることができ、二次元回転ターゲットの応力を分析することによって、ターゲットの温度上昇及びタンタル/タンタル合金の降伏強度がパルス間隔に対する制限作用を分析した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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電子ビーム,イオンビーム 
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