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J-GLOBAL ID:201702260490666291   整理番号:17A1786711

低速Xeq+とMo表面の作用により生成されたXe X射線【JST・京大機械翻訳】

Xe M X rays emission from slow highly charged Xeq+ ions interacting with Mo surface
著者 (4件):
資料名:
巻: 53  号:ページ: 37-41,47  発行年: 2017年 
JST資料番号: C3252A  ISSN: 1001-988X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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Si(Li)検出器を用いて、運動エネルギー350~600keVのXeq+(q=26、28、29、30)イオンがMo表面に入射するX線スペクトルを測定した。qがそれぞれ28,29,30のとき,スペクトル線には1.572,1.592および1.611keVのピークがあり,この放射線はXeq+がM oの下で形成された中空原子の中性化過程によって放出された。ピークのエネルギーはイオン電荷状態,ターゲット原子の電子束縛エネルギー,検出器のエネルギーの下限及びBe窓の減衰などの要素と関係があり,1.592keV付近のX線の生産額はイオンの運動エネルギーとは明らかな関係がないが,イオンのMシェル層の空孔数の増大につれて著しく増大した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
著者キーワード (3件):
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X線技術  ,  スペクトル計測及びスペクトロメータ  ,  放射線検出・検出器 
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