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J-GLOBAL ID:201702260916821350   整理番号:17A1247592

Ti含有マイクロ波誘電体の熱刺激緩和と欠陥挙動の理解:BaTi_4O_9の事例研究【Powered by NICT】

Understanding the thermally stimulated relaxation and defect behavior of Ti-containing microwave dielectrics: A case study of BaTi4O9
著者 (5件):
資料名:
巻: 130  ページ: 479-487  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0495B  ISSN: 0264-1275  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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誘電体における緩和現象は,それらの欠陥化学と密接に関連していることは良く知られている。しかし,マイクロ波誘電体の緩和挙動はほとんど考えられてこなかった,これらの材料はエレクトロセラミックファミリーの重要なメンバーであるにもかかわらず。,典型的なマイクロ波誘電セラミック四チタン酸バリウム(BaTi_4O_9)の緩和挙動を調べた。誘電分光法及び熱刺激脱分極電流(TSDC)測定の両方で観察された有意な熱刺激緩和,緩和と欠陥挙動との間の相関を検討した。TSDC特性は活性化エネルギー(E a)0.32 0 0.36eVの欠陥双極子[(Ti_Ti~’)-(V_O~)]は低温で現れることを明らかにしたが,結晶粒内とを横切る粒界酸素空格子点(V_O~)はより高い温度で現れ,0.30 0 1.48eVと0.65 1 0.01eVのE aを得た。さらに,(Ti_Ti~’)-(V_O~)とV_O~,これら二タイプの欠陥は低く,高温で観測した誘電緩和のための対応する原因であると考えた。BaTi_4O_9,TiO_2,MgTiO_3とCa_0 8Sr_0 2TiO_3など,いくつかの典型的なTi含有マイクロ波誘電体の緩和挙動を比較した,それはマイクロ波誘電性能と欠陥挙動は材料におけるTiO_6八面体の結合と密接に関連していることを示唆した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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