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J-GLOBAL ID:201702261017125536   整理番号:17A1244727

Mgの移動とGaNにおける他の間質性金属ドーパント【Powered by NICT】

Migration of Mg and other interstitial metal dopants in GaN
著者 (2件):
資料名:
巻: 11  号:ページ: null  発行年: 2017年 
JST資料番号: W1880A  ISSN: 1862-6254  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ウルツ鉱型GaNにおける格子間Mgの移動のための最小エネルギー経路を,密度汎関数計算によって調べた。研究はまた,ドーパント種のサイズと電荷への依存性を調べるためにLi,Na,Beドーパントから成る。検討した全てのケースでは,不純物が局在化電荷の傾向のないイオンを拡散する。Li,Mg,ある程度Na,GaN中のほぼ等方的に拡散し,1.1年,2.1年,および2.5eVの平均拡散障壁を持つ,それぞれした。代わりはc軸に垂直及び平行拡散経路のための0.76と1.88eVのエネルギー障壁をもつ顕著な異方性を示した。拡散障壁は一般的にイオン電荷とイオン半径と共に増加したが,それらの相互作用は自明ではない。Mgに対して計算した移動障壁は最近のβ放出チャネリング実験で推定した値と一致した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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半導体のルミネセンス  ,  不純物・欠陥の電子構造 
タイトルに関連する用語 (4件):
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