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J-GLOBAL ID：201702261126337995   整理番号：17A1270298

エチレンプロピレンジエン単量体膜における同時伝導電流と空間電荷蓄積の研究【Powered by NICT】

Study on conduction current and space charge accumulation simultaneously in Ethylene Propylene Diene Monomer film

著者 (5件)： Wang Weiwang (School of Electrical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, Shaanxi 710049, China) ,  Tanaka Yasuhiro (Measurement and Electric Machine Control Laboratory, Tokyo City University Tamazutsumi, Setagaya 158-8557, Tokyo, Japan) ,  Fujitomi Toshiyuki (Measurement and Electric Machine Control Laboratory, Tokyo City University Tamazutsumi, Setagaya 158-8557, Tokyo, Japan) ,  Takada Tatsuo (Measurement and Electric Machine Control Laboratory, Tokyo City University Tamazutsumi, Setagaya 158-8557, Tokyo, Japan) ,  Li Shengtao (School of Electrical Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xi’an, Shaanxi 710049, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICEMPE  ページ： 464-467  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,改良型統合PEAシステムを用いて同時にエチレンプロピレンジエン単量体(EPDM)膜の空間電荷分布と外部電流性能を調べた。空間電荷と電流測定回路を切り替えることにより,空間電荷および外部電流は60kV/mm,80kV/mmの電場中の交互に検出された。少量homochargesの試料内部に蓄積された。が,明らかな電子注入は,負極(Al電極)から生じ,試料内部に移動した。これは,アノード近傍の電場歪をもたらした。しかし,正孔注入は,アノード(半導体層)から生じることは困難であると考えられた。測定された電流密度と空間電荷分布に基づいて,試料内部の伝導電流密度分布を計算した。結果は測定の開始,急速な電子注入と移動に起因する発生した巨大伝導電流であることを示した。それにもかかわらず,時間の増加と共に減少し,伝導電流密度(1×10~ 6A/m~2以下)の均一な分布を示した。添加では,空間電荷と伝導電流に起因する散逸エネルギー密度も現場適用時に推定した。高出力密度は測定の開始時に試料内部で,現れることを示した。しかし,徐々に時間の増加と共に減少した。この情報は,電気ストレス中の空間電荷に起因するエネルギー損失動力学,老化と絶縁破壊に及ぼす空間電荷の影響メカニズムを評価するために非常に重要であることを明らかにした。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 高速度 ,  電場 ,  絶縁破壊 ,  半導体 ,  *単量体 ,  電流密度 ,  *空間電荷 ,  *電流 ,  電流測定 ,  エネルギー損失 ,  *帯電
準シソーラス用語： 出力密度 ,  正孔注入 ,  電子注入 ,  空間電荷分布 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 絶縁材料  (NA04030W) ,  誘電体一般  (BM05010F)

タイトルに関連する用語 (4件)： エチレンプロピレンジエン ,  単量体 ,  電荷蓄積 ,  研究