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J-GLOBAL ID：201702261152877513   整理番号：17A1410528

SKPM画像からの電荷分布【Powered by NICT】

Charge distribution from SKPM images

著者 (3件)： Gonzalez J. F. (Biomedical Science, Faculty of Health and Society, Malmoe University, 20506 Malmoe, Sweden) ,  Somoza A. M. ,  Palacios-Lidon E.
資料名： Physical Chemistry Chemical Physics  (Physical Chemistry Chemical Physics)
巻： 19  号： 40  ページ： 27299-27304  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0271C  ISSN： 1463-9076  CODEN： PPCPFQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 実験Kelvinプローブ顕微鏡測定からの表面電荷分布を推論する通常難しい課題。これらの電荷の影響を推定するために提案されたいくつかの近似が,実際の逆問題は,これまで検討されていない。本論文では,実験的Kelvin電圧測定から直接得られる表面電荷分布を可能にする高速Fourier変換アルゴリズムに基づく高速かつ直感的な方法を提案した。この方法を用いて,全電荷と電荷位置のような定量的物理情報は高度に絶縁性高分子表面のような複雑な電荷分布でもアクセス可能である。さらに,最強点の一つは亜先端分解能が達成されることであり,従って,通常未知の電荷サイズを推定することができる。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *顕微鏡観察 ,  Kelvin法 ,  *電荷分布 ,  Fourier変換 ,  分解能 ,  *電圧測定 ,  表面電荷
準シソーラス用語： Kelvinプローブフォース顕微鏡法

分類 (2件)： 電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (1件)： 電荷分布