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J-GLOBAL ID:201702261243475230   整理番号:17A1456567

応答曲面法遺伝的アルゴリズムに基づく技術を用いたWeissella cibaria NITCSK4によるデキストラン生産の最適化【Powered by NICT】

Optimization of dextran production by Weissella cibaria NITCSK4 using Response Surface Methodology-Genetic Algorithm based technology
著者 (4件):
資料名:
巻: 174  ページ: 103-110  発行年: 2017年 
JST資料番号: E0961A  ISSN: 0144-8617  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Weissella cibaria NITCSK4によるデキストラン生産に最も影響する因子は,95%の信頼限界決定の係数(R~2)99.58%の高い値でPlackett Burman設計を用いてスクリーニングした。重要な因子,すなわち,しょ糖,温度,ジカリウム水素ホスファート(K_2HPO_4)と酵母エキスの複合効果を応答曲面法(RSM)を用いて最適化した。RSMによって予測された非線形モデルの入力パラメータは,最大デキストラン収率を得るための遺伝的アルゴリズム(GA)を用いて最適化した。最大収率は15.78%,酵母エキス1.27%,K_2HPO_41 0.25%のショ糖濃度,及び26°Cで得られた。予測条件を実験的に検証し,43.79mg/mlのデキストランを作製した。デキストラン収率は最適化されていない培地に比較して51%高かった。26°Cで生成したデキストランの分子量が>2000kDaであった。NMR分光分析は,NITCSK4が支配的なα(1 6)結合を有する直鎖デキストリンを生成することを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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