文献

J-GLOBAL ID：201702261283537884   整理番号：17A1924912

SRAM型FPGAの単一粒子効果に基づく故障伝搬モデル【JST・京大機械翻訳】

SRAM-Based FPGA SEU Fault Propagation Model

著者 (3件)： Wu Shan (復旦大学専用集成電路与系統国家重点実験室,上海,201203) ,  Zhou Xuegong (復旦大学専用集成電路与系統国家重点実験室,上海,201203) ,  Wang Lingli (復旦大学専用集成電路与系統国家重点実験室,上海,201203)
資料名： Dianzi Xuebao  (Dianzi Xuebao)
巻： 45  号： 8  ページ： 1976-1984  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2504A  ISSN： 0372-2112  CODEN： TTHPAG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： SRAM型FPGAは放射環境において単一粒子反転の影響を受けやすく、回路機能の失効をもたらす。本論文では,グラフ理論とセルラオートマトンモデルに基づいて,SRAMのFPGAの単一粒子効果に対する回路故障伝搬モデルを提案した。本論文では、単一粒子反転を単位反転と多位反転に分けて研究を行い、多位反転モデルは衝突処理の問題にも言及している。本文では、主に結合度の計算方式を改善し、FPGA配置配線中の関連配置を計算することにより、シミュレーションの回路故障伝搬モデルを実際の回路符号点反転の結果により近く、従来のLUT相関配置位置を計算する方法と比較した。平均の最適化度は19.89%であった。最後に,故障の防御における本モデルのいくつかの応用を説明し,例えば,最も容易に故障拡散を引き起こすセルを見出した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *モデル ,  *SRAM ,  グラフ理論 ,  *故障 ,  配線 ,  最適化 ,  *FPGA
準シソーラス用語： 結合度 ,  回路故障 ,  *伝搬モデル ,  *単一粒子 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： field programmable gate array (FPGA) ,  single event upset (SEU) ,  single-bit upset (SBU) ,  multi-bit upset (MBU) ,  fault propagation model

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (5件)： SRAM ,  FPGA ,  単一粒子 ,  故障 ,  伝搬モデル