抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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診断可能システムのための解析的冗長性関係を導出する方法を提案する。出発点は,制約の過剰決定集合,検討中のシステムの構造解析により得られたである。問題は,測定された信号及びこれら信号の誘導体における残差の解析的表現を見出すことである。状態変数と出力の導関数を表す方程式の級数による構造グラフに含まれる微分制約を置き換えることを述べている。結果は方程式の過剰決定集合,解析的冗長性関係を導くの行列-ベクトル表現である。法を例により説明した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】