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J-GLOBAL ID:201702261377334906   整理番号:17A1282327

微粒子X線蛍光強度MCNPXシミュレーションとWDXRF実験【JST・京大機械翻訳】

X-Ray Fluorescence Intensity Calculation for Micro-Particles via MCNPX and WDXRF Experiment
著者 (9件):
資料名:
巻: 37  号:ページ: 607-611  発行年: 2017年 
JST資料番号: C2093A  ISSN: 1000-0593  CODEN: GYGFED  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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X線蛍光(XRF)解析におけるサンプルの微粒子の影響を研究するために,X線蛍光分光法(MCNPX)を用いて,X線蛍光特性に及ぼすサンプルサイズの影響,ピークの総ピーク比,およびピーク検出効率を研究した。シミュレーション結果を,波長分散X線蛍光分光法(WDXRF)によって試験した。結果は以下を示した。サンプルの微粒子X線蛍光強度と粒径との関係に対して、MCNPXのシミュレーション値は理論計算値と一致した。MCNPXシミュレーション結果はWDXRF実験結果と一定の差異があり、これはMCNPXモデルがサンプルの状態に対する仮説と実際の状況に一定の差異があることによる。サンプルを粉砕し、小さい粒子に研磨し、プレス処理を行う方法を用いて、WDXRFの実測結果をできるだけ減少させ、MCNPX理論シミュレーション結果との差異性を減少させることができる。サンプルの粒径が一定のサイズに達したとき,ピークの総ピーク比,ピークの検出効率,および特性ピークのX線蛍光計数は,安定した値に達したが,それらのピーク値は,すべてのサンプルにおいて安定していたことが示された。粒子サイズが特定のサイズ範囲内にある場合、粒子度効果の影響は無視できない。このほか、粒子度効果の影響はほとんど無視できる。本論文では、サンプルの粒径がXRFの分析結果に与える影響を充分に考慮し、粒子度効果による分析結果の不確定性を減少させるために、実行可能な研究構想を提供し、この方法はX線分析の生産実践に一定の技術的参考を提供することができる。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (5件):
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品質管理一般  ,  オペレーションズリサーチの基礎的数学理論  ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  ,  粒状物調査測定  ,  環境の汚染及び防止 

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