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J-GLOBAL ID:201702261510892961   整理番号:17A0953488

単層ペンタセン薄膜/極性ZnO単結晶ハイブリッド界面に関する光電子分光研究

Photoelectron spectroscopic study on monolayer pentacene thin-film/polar ZnO single-crystal hybrid interface
著者 (11件):
資料名:
巻: 10  号:ページ: 025702.1-025702.4  発行年: 2017年02月 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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単層ペンタセン薄膜/ZnO界面の電子状態に対するZnOの極性効果を,X線光電子分光法(XPS)により研究した。XPSにより,Zn極性ZnO(Zn-ZnO)によって,界面のペンタセンにおける電子が強く空乏化することを明らかにした。O極性ZnOはZn-ZnOよりも大きいZnOからペンタセンへの電子移動を示した。ZnO上のペンタセンの表面ポテンシャルは,ZnO極性に関係なくバルクペンタセンのものより大きかった。これら研究結果は,ZnOの極性が有機/無機半導体界面の電子状態を制御する可能性があることを示す。単層ペンタセン薄膜/ZnO界面の電子状態に対するZnOの極性効果を,X線光電子分光法(XPS)により研究した。XPSにより,Zn極性ZnO(Zn-ZnO)によって,界面のペンタセンにおける電子が強く空乏化することを明らかにした。O極性ZnOはZn-ZnOよりも大きいZnOからペンタセンへの電子移動を示した。ZnO上のペンタセンの表面ポテンシャルは,ZnO極性に関係なくバルクペンタセンのものより大きかった。これら研究結果は,ZnOの極性が有機/無機半導体界面の電子状態を制御する可能性があることを示す。(翻訳著者抄録)
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