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J-GLOBAL ID：201702261583747571   整理番号：17A1422800

高輝度電子ビームの横方向エミッタンスの診断【Powered by NICT】

Transverse emittance diagnostics for high brightness electron beams

著者 (15件)： Cianchi A. (University of Rome Tor Vergata and INFN-Roma Tor Vergata, Via della Ricerca Scientifica 1, 00133 Rome, Italy) ,  Anania M.P. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Bellaveglia M. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Bisesto F. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Castellano M. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Chiadroni E. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Di Giovenale D. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Di Pirro G. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Ferrario M. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Gatti G. (CLPU, SCIENCE PARK Adaja 8 37185, Villamayor, Salamanca, Spain) ,  Mostacci A. (University of Rome La Sapienza, P.le Aldo Moro 5, 00185 Rome, Italy) ,  Pompili R. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Shpakov V. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Stella A. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy) ,  Villa F. (INFN-LNF, Via Enrico Fermi 40, 00044 Frascati, Italy)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 865  ページ： 63-66  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0208B  ISSN： 0168-9002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高輝度電子ビームのための先進的診断ツールであるプラズマベース加速器の適切な最適化に必須である。プラズマチャネルの出口でのビームパラメータの正確な測定は,プラズマ加速器の微調整において重要な役割を果たす。電子ビーム診断はエミッタンス測定に重点を置いてレビューする,それは大きなエネルギー広がりと強集束出現ビームのために特に複雑である。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *エミッタンス ,  プラズマ加速器 ,  加速器 ,  *電子ビーム ,  最適化 ,  集束 ,  プラズマチャネル
準シソーラス用語： 微調整 ,  *高輝度 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： Diagnostics ,  横方向診断 ,  エミッタンス測定

分類 (2件)： 加速器一般及び理論  (BE02010M) ,  線形加速器  (BE02030I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高輝度 ,  電子ビーム ,  横方向 ,  エミッタンス ,  診断