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J-GLOBAL ID：201702261961607747   整理番号：17A1651144

伝搬遅延時間の分解に基づく高速光カプラの貯蔵寿命予測【Powered by NICT】

Storage life prediction of high-speed optocouplers based on degradation of propagation delay time

著者 (4件)： Zhang Hong (Aerospace Science & Industry Corp. Defense Technology R & T Center, Beijing, China) ,  Xiong Yuanyuan (School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China) ,  Mei Liang (Aerospace Science & Industry Corp. Defense Technology R & T Center, Beijing, China) ,  Yang Daming (School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, Beijing, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： PHM (Harbin)  ページ： 1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,高速光結合器の構造と特性を分析した。高速光結合器の信号伝搬速度はショットキークランプトランジスタによる高速であった。特性パラメータとして,伝搬遅延時間(PDT)は高速光カプラの貯蔵寿命を評価するために選択した。,貯蔵中の高速光結合器の破壊モードを調査した。発光ダイオード(LED)の分解は伝搬速度に影響する高速光結合器の主な破壊モードである。貯蔵の主な応力は温度であることを考慮して,LEDの発光効率の劣化を加速するように設計した高温貯蔵。20デバイスはそれぞれ100°C,125°C,150°C,175°C下に置いた4群に分けた。PDTの分解傾向関数近似,最小二乗法を用いたPDTの結果に基づいて,予測した。175°Cでデバイスはいくつかの異常な破壊を示し,そのPDTは無効であった。100°Cと125°CでPDTの傾向によると,異なる温度のArrheniusの式の活性化エネルギーと促進因子を計算することができる。150°C及びArrheniusの式で劣化傾向に基づいて,貯蔵寿命は25°Cで280.6週間で予測できるCopyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 破壊モード ,  *予測 ,  関数近似 ,  Arrheniusの式 ,  *光結合器 ,  発光ダイオード ,  最小二乗法 ,  活性化エネルギー ,  *シェルフライフ ,  *高速度 ,  信号伝送 ,  高温
準シソーラス用語： 発光効率 ,  伝搬速度 ,  *伝搬遅延 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 伝搬遅延 ,  分解 ,  光カプラ ,  貯蔵寿命 ,  予測