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J-GLOBAL ID：201702262167884236   整理番号：17A1301056

有機EL素子の劣化機構解析

著者 (9件)： 村田英幸 (北陸先端科学技術大学院大) ,  大山詩歩 (北陸先端科学技術大学院大) ,  酒井平祐 (北陸先端科学技術大学院大) ,  久保友明 (CEREBA) ,  杉本和則 (CEREBA) ,  吉岡俊博 (CEREBA) ,  大畑浩 (CEREBA) ,  宮口敏 (CEREBA) ,  筒井哲夫 (CEREBA)
資料名： 高分子学会予稿集(CD-ROM)  (高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 66  号： 2  ページ： ROMBUNNO.3T02  発行年： 2017年09月06日 
JST資料番号： Z0703C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  エレクトロルミネセンス ,  機構 ,  *劣化 ,  有機半導体 ,  有機EL素子
準シソーラス用語： 有機ELデバイス ,  劣化機構

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 有機EL素子 ,  解析