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J-GLOBAL ID：201702262742646207   整理番号：17A1644474

ワイヤ媒質型レンズによるサブ波長イメージングのためのロバストな回路モデル法の系統的開発【Powered by NICT】

Systematic development of a robust circuit-model technique for subwavelength imaging with wire-medium type lenses

著者 (5件)： Moreno Gabriel (Dept. of Electrical Engineering, University of Mississippi, University, MS 38677-1848, US) ,  Forouzmand Ali (Dept. of Electrical Engineering, University of Mississippi, University, MS 38677-1848, US) ,  Yakovlev Alexander B. (Dept. of Electrical Engineering, University of Mississippi, University, MS 38677-1848, US) ,  Silveirinha Mario G. (Dept. of Electrical Engineering-Instituto de Telecomunicac,oes, University of Lisbon, Lisbon 1049-001, Portugal) ,  Hanson George W. (Dept. of Electrical Engineering and Computer Science, University of Wisconsin-Milwaukee, Milwaukee, WI 53221, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： APUSNCURSINRSM  ページ： 1953-1954  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マッシュルーム型構造を持つ電磁波(伝搬波およびエバネセント波の両者)の相互作用を定量化するために確立されている一般的な回路モデルベース定式化。厚さ依存局所誘電率が空間分散と境界の影響を考慮に入れることができ,単離し,制限されたワイヤ媒質(WM)トポロジーを特性化するために利用した。得られたロバストな方法を以前に開発した非局所均質化法のための有望な選択肢となることができ,それはまた特にサブ波長イメージング応用における近接場問題のための定式を簡素化するために有用である。提案した回路モデルをサブ波長イメージングの背後にある物理的機構であるエバネセントモードの増幅を正確に評価できる。透過応答対励起エバネセントモードと画像プロファイルの点で得られた解析結果は,局所的な厚さ依存性と非局所均質化モデルの間の良好な一致を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 均質化 ,  エバネセント波 ,  *金属線 ,  位相幾何学 ,  *媒質 ,  相互作用 ,  キャラクタリゼーション ,  *ロバスト性 ,  近接場 ,  *レンズ ,  電磁波 ,  *回路モデル ,  簡素化 ,  誘電率
準シソーラス用語： *サブ波長イメージング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 光物性一般  (BM08010A) ,  量子光学一般  (BD04010X) ,  光の像形成  (BD03050I)

タイトルに関連する用語 (8件)： ワイヤ ,  媒質 ,  レンズ ,  サブ波長イメージング ,  ロバスト ,  回路モデル ,  系統 ,  開発