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J-GLOBAL ID:201702262860816434   整理番号:17A0831809

新しいおよび老化したNa_0 5Bi_0(Ti,Fe,W)O_3薄膜における誘電挙動の比較研究【Powered by NICT】

Comparative study on dielectric behavior in fresh and aged Na0.5Bi0.5(Ti,Fe,W)O3 thin films
著者 (6件):
資料名:
巻: 43  号: 10  ページ: 7690-7694  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0705A  ISSN: 0272-8842  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Na_0 5Bi_0(Ti_0 0.90Fe_0 0.02W_0 0.08)O_3(NBTFW)薄膜を化学溶液堆積法によりITO/ガラス基板上に堆積した。微細構造,絶縁と誘電性能は,フレッシュおよび老化した試料で測定し,比較した。両試料は純粋なペロブスカイト構造に結晶化し,亀裂のない平滑な表面を有していた。より低い漏れ電流密度と相対誘電率は高齢NBTFW膜新鮮なもののそれらと比較して得ることができた。低電圧または高周波では,新鮮な膜は正規化された誘電率電場曲線の典型的な蝶型パターンを示したが,高齢者膜は二人の正常ダブルピーク形状の異常な特性を示した。関連老化機構は移動性酸素空孔のマイグレーションを介して自発分極に沿って零V-Fe Ti′欠陥双極子の再配列と関連していると考察した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
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セラミック・陶磁器の製造  ,  酸化物薄膜  ,  セラミック・磁器の性質 
タイトルに関連する用語 (6件):
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