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J-GLOBAL ID：201702263330548100   整理番号：17A1350930

HFPTの運転状況におけるポリイミドとポリフェニレンスルフィドの絶縁寿命評価に関する研究【Powered by NICT】

Research on insulation life evaluation of polyimide and Polyphenylene Sulfide in the operation condition of HFPT

著者 (5件)： Huang Xuwei (Beijing Key Lab of High Voltage & EMC, North China Electric Power University, China) ,  Lu Yangfei (Beijing Key Lab of High Voltage & EMC, North China Electric Power University, China) ,  Xiao Yi (Beijing Key Lab of High Voltage & EMC, North China Electric Power University, China) ,  Li Qingmin (Beijing Key Lab of High Voltage & EMC, North China Electric Power University, China) ,  Zhongdong Wang (School of Electric and Electronic, The University of Manchester, UK)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EIC  ページ： 83-86  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 固体絶縁材料の劣化と破壊は高周波電力変圧器(HFPT)の不可逆的破壊を導く重要な因子である。特殊電気的ストレス下でのHFPTの絶縁寿命を正確に評価するために,温度制御された高周波と高電圧絶縁劣化試験システムを設計した。本論文では,高周波電力変圧器,ボール-プレートモデルにおけるポリイミド(PI)絶縁の実際の運転条件との関係を用いて,電場特性をシミュレートした。高周波と高電圧加速劣化実験では,PIのライフサイクル,多数の試料に基づいて,Weibull分布関数を用いて解析した。PRPDスペクトルは寿命実験で検討した。同時に,ポリフェニレンスルフィド(PPS)の類似した特性も認めた。最後に,PIとPPS分子モデルの動的分極率は量子化学DFT法により計算した。本研究では,PPSは,実験室条件でPIよりも高い周波数電気ストレス耐性を示すことを実証した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *寿命評価 ,  スペクトル ,  温度制御 ,  絶縁材料 ,  分子モデル ,  絶縁劣化 ,  *ポリイミド ,  ライフサイクル ,  HF【周波数】 ,  分極率 ,  *ポリフェニレンスルフィド ,  電力変圧器 ,  量子化学 ,  電場 ,  絶縁体
準シソーラス用語： 加速劣化 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 変圧器  (NB08020Q)

タイトルに関連する用語 (6件)： 状況 ,  ポリイミド ,  ポリフェニレンスルフィド ,  絶縁 ,  寿命評価 ,  研究