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J-GLOBAL ID：201702264032386518   整理番号：17A1359804

28nm SRAM6Tビットセルを用いた順序依存チャレンジ/応答PUF【Powered by NICT】

A sequence dependent challenge-response PUF using 28nm SRAM 6T bit cell

著者 (5件)： Jeloka Supreet (University of Michigan, Ann Arbor, MI) ,  Yang Kaiyuan (University of Michigan, Ann Arbor, MI) ,  Orshansky Michael (University of Texas, Austin, TX) ,  Sylvester Dennis (University of Michigan, Ann Arbor, MI) ,  Blaauw David (University of Michigan, Ann Arbor, MI)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： VLSI Circuits  ページ： C270-C271  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： SRAM PUFsはチップIDのみに用いた。提案した配列依存PUFは列~(配列長さ1)の順によるSRAM PUFのチャレンジレスポンス空間を拡大し,認証に適している。添加では,機械学習攻撃に免疫決定配列依存非線形挙動を示す。28nmでは,64×64SRAM PUFは0.6Vで30fJ/ビット 88fJ/bitの範囲のエネルギーを持つ388F~2ビット面積を有していた。はまた高スループット,2.2Gbpsから6.8Gbps~0.9Vでを提供するCopyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *SRAM ,  機械学習
準シソーラス用語： ハイスループット , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (4件)： ビット ,  セル ,  順序 ,  応答