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J-GLOBAL ID:201702264473427550   整理番号:17A1269578

マイクロCMMのための表面走査接触プローブの開発【Powered by NICT】

Development of a surface scanning touch probe for micro-CMM
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: ICASI  ページ: 1942-1945  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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マイクロCMMのための低接触力による表面走査接触プローブを提案した。プローブの変位は2自由度機構円形フレーム,タングステン針と塩基に固定板ばねから成るにより検出した。触針の設計は,硬い円形フレーム,板ばねに固定の中心に搭載されている一方,Z軸変位誤差を阻害する板ばねの中心に設置されている生センター。プローブが物体を触れると,XYの角変位を引き起こしたのみだった。,2自由度の特性を達成することができた。光路の設計では,コリメートしたLDを光源として使用し,2次元位置センサ検出器はセンシング成分として採用した。両者は前述の機構に結合し,回転機構と統合される。AC軸サーボモータは回転機構の駆動因であることを用いた。さらに,回転機構モータドライバを持つ導波要素として用いた軸受。は複雑な表面走査測定を達成するためにマイクロCMMに設置することができた。最後に,実験試験はプローブの測定範囲は±X及びY方向に1mm±1mmであることを示し,測定標準偏差は55nmであり,プロービング力は0.11mm小さかった。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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ロボットの設計・製造・構造要素  ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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