文献

J-GLOBAL ID：201702265113052161   整理番号：17A0743504

XPS測定時における高分子の試料損傷および標準物質を用いた速度論的評価

Degradation of Polymers during XPS Measurement and the Kinetic Evaluation using Reference Material

著者 (6件)： 大和弘之 (栃木県産技セ) ,  仁平淳史 (栃木県産技セ) ,  倉山文男 (宇都宮大 大学院工学研究科) ,  古澤毅 (宇都宮大 大学院工学研究科) ,  佐藤正秀 (宇都宮大 大学院工学研究科) ,  鈴木昇 (宇都宮大 大学院工学研究科)
資料名： 材料技術  (Material Technology)
巻： 35  号： 2  ページ： 42-49  発行年： 2017年03月25日 
JST資料番号： Y0644A  ISSN： 0289-7709  CODEN： MTECFQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： PVC,PTFE,PET,PMMA,ナイロン66,ナイロン6を評価対象とし,XPS測定時におけるX線照射時間の経過に伴う試料損傷に及ぼす測定条件(X線照射条件)の影響を調べた。X線源に非単色化MgK_α2および単色化AlK_αを用い,PFDT-Auを標準試料として損傷評価の適用について調べた。その結果,次のことが分かった。1)PVC,PET,PMMA,ナイロン66およびナイロン6において各試料の相対損傷因子はX線照射条件の違いがあってもほぼ一定の値となり試料損傷を見積もる指標として有効である,2)PTFEにおいてX線源にMgK_αを用い試料とX線源を近づけた条件では相対損傷因子が特異的に大きな値を示す。

シソーラス用語： *X線光電子分光法 ,  *損傷 ,  ポリ塩化ビニル ,  ポリテトラフルオロエチレン ,  ポリエチレンテレフタレート ,  ポリメタクリル酸メチル ,  ナイロン66 ,  ナイロン6 ,  *プラスチック ,  X線照射 ,  芳香族ポリエステル

分類 (1件)： 機械的性質  (YH02022L)

引用文献 (19件)：

• 日本表面科学会編, ′′X線光電子分光法′′, p.76, 丸善出版(1998).
• H. Tohma, K. Miura, and Organic Materials Group of Surface Analysis Society of Japan, J. Surf. Anal., 5, 220 (1999).
• N. Suzuki, T. Sakamoto, T. Isano, K. Iimura, T.kato, H. Tohma, T. Maruyama, K. Miura and Organic Materials Group of Surface Analysis Society of Japan, J. Surf. Anal., 5, 224 (1999).
• G.Coullerez, Y.Chevolot, N. Xanthopoulos and H. J. Mathieu, J.Surf. Anal., 5, 235 (1999).
• K.Takaoka, S. Koizumi, S. Maeda, C. Bureau, K. Endo, K. Hyodo and H. Miura, J.Surf. Anal., 9, 471 (2002).

タイトルに関連する用語 (7件)： XPS ,  高分子 ,  試料 ,  損傷 ,  標準物質 ,  速度論 ,  評価