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J-GLOBAL ID:201702265889915717   整理番号:17A1392003

極端スケールでのステンシルベースのアプリケーションのための局所回復によるモデリングとシミュレーション多重故障マスキング【Powered by NICT】

Modeling and Simulating Multiple Failure Masking Enabled by Local Recovery for Stencil-Based Applications at Extreme Scales
著者 (7件):
資料名:
巻: 28  号: 10  ページ: 2881-2895  発行年: 2017年 
JST資料番号: T0882A  ISSN: 1045-9219  CODEN: ITDSEO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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エクサスケールの有望性を完全に実現できる前にアプリケーションレベルでのマルチプロセスハード故障回復力の克服しなければならない重要な課題である。以前の研究は,ジョブを終了させると最終貯蔵チェックポイントからそれを再開のより伝統的なアプローチと比較した場合,オンライン大域的回復は,故障のオーバヘッドを劇的に低減できることを示した。オンライン回収率は局所的に行われるならばいくつかのアプリケーション形式を用いた場合に可能にし,局所的に回収の固有の低コストによるが,誘導された効果に起因するのみならず更なるスケーラビリティ。本論文では,故障を局所的に回復した時に環境へのステンシル並列計算を実行する場合,発現したそのような効果,すなわち多重故障マスキング,をモデル化した。一一または多重故障局所回復の遅延伝搬形状をモデル化あるステンシル応用挙動下での破壊マスキングの異なるレベルの確率のいくつかの解析を可能にすることである。著者らの結果は,故障マスキングは,症状は機械サイズまたは故障率増加より明らかであり有益であるスケールで非常に望ましい効果であることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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ディジタル計算機方式一般 

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