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J-GLOBAL ID：201702266012833016   整理番号：17A1036216

光起電力モジュール上のポテンシャル誘起劣化の高レベルでの不可逆的損傷試験キャンペーン【Powered by NICT】

Irreversible damage at high levels of potential-induced degradation on photovoltaic modules: A test campaign

著者 (3件)： Carolus Jorne (Hasselt University, Martelarenlaan 42, 3500 Hasselt, Belgium) ,  De Ceuninck Ward (Hasselt University, Martelarenlaan 42, 3500 Hasselt, Belgium) ,  Daenen Michael (Hasselt University, Martelarenlaan 42, 3500 Hasselt, Belgium)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IRPS  ページ： 2F-5.1-2F-5.6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 太陽光発電(PV)モジュールの電位誘起劣化(PID)は,2010年以来,多くの注目を得るソロンは太陽電池の高電位差と接地フレーム[1]に起因するPVモジュールの劣化機構についての所見を発表した。PIDによる30%以上のモジュールレベル効率低下が報告されている[2],[3]。IEC-62804と同じ条件で回収試験によるとPIDの応力試験は49商業的に入手可能なPVモジュールで実施した。本論文では,高度に影響を受けた(すなわち85%以上PID)PVモジュールの不可逆性を報告した。このような観点から,検出することが重要であり,反射点の前のPIDを回復しなかった。さらに,PVモジュールの異なったパラメタと現場におけるPIDを検出するためにそれらの関連性についてPIDの影響を報告した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 太陽電池 ,  不可逆性 ,  *光起電力 ,  太陽光発電 ,  接地 ,  電位
準シソーラス用語： 劣化機構 ,  電位差 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 太陽光発電  (NB03090G) ,  太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (8件)： 光起電力 ,  モジュール ,  ポテンシャル ,  誘起 ,  高レベル ,  損傷 ,  試験 ,  キャンペーン