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J-GLOBAL ID：201702266043948246   整理番号：17A0301548

CASTEPを用いてキャリア有効質量の信頼性解析を行った。【JST・京大機械翻訳】

Research on Reliability of Effective Mass Calculation by CASTEP

著者 (5件)： Wang Shengnan (College of Materials &Environmental Engineering,Hangzhou Dianzi University) ,  Mao Qinan (College of Materials &Environmental Engineering,Hangzhou Dianzi University) ,  Yuan Qianmin (College of Materials &Environmental Engineering,Hangzhou Dianzi University) ,  Li He (College of Materials &Environmental Engineering,Hangzhou Dianzi University) ,  Ji Zhenguo (College of Materials &Environmental Engineering,Hangzhou Dianzi University)
資料名： Cailiao Kexue Yu Gongcheng Xuebao  (Cailiao Kexue Yu Gongcheng Xuebao)
巻： 34  号： 5  ページ： 702-705,693  発行年： 2016年 
JST資料番号： C2657A  ISSN： 1673-2812  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 第一原理に基づき、密度汎関数理論(DFT)の枠組みにおいて、一般化勾配近似(GGA)を用いて補正を行い、超ソフト(()を用いてイオンの代わりに、ダイヤモンド構造のC、SI、GEを含むいくつかの典型的な半導体材料を計算した。閃亜鉛鉱構造のGAAS,GAP,INP,CDTE,CDSおよびウルツ鉱型構造のGAN,ZNO半導体材料のバンド構造を示した。半導体材料のキャリア有効質量の計算式と結合して,極値付きの近点のフィッティングを行い,有効質量の理論的計算結果を得て,計算結果の信頼性について議論した。実験データとの比較により,計算結果は良好な一致を示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： バンド構造 ,  密度汎関数法 ,  半導体材料 ,  *有効質量 ,  *信頼性解析 ,  *信頼性 ,  イオン ,  第一原理 ,  *キャリア
準シソーラス用語： 計算式 ,  ウルツ鉱型構造 ,  閃亜鉛鉱型構造 ,  ダイヤモンド型構造 ,  一般化勾配近似 ,  *CASTEP , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： first principles ,  band structure ,  effective mass

分類 (1件)： 半導体結晶の電子構造  (BM02060N)

タイトルに関連する用語 (4件)： CASTEP ,  キャリア ,  有効質量 ,  信頼性解析