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J-GLOBAL ID：201702266142605900   整理番号：17A1729839

11ビットA DCのための63dB SN比を達成する失われたコード検出利得誤差キャリブレーション【Powered by NICT】

A missing-code-detection gain error calibration achieving 63dB SNR for an 11-bit ADC

著者 (5件)： Wang Guan-Cheng (State Key Laboratory of Analog and Mixed-Signal VLSI, University of Macau, Macao, China) ,  Zhu Yan (State Key Laboratory of Analog and Mixed-Signal VLSI, University of Macau, Macao, China) ,  Chan Chi-Hang (State Key Laboratory of Analog and Mixed-Signal VLSI, University of Macau, Macao, China) ,  Seng-Pan U (Department of ECE, Faculty of Science of Technology, University of Macau, Macao, China) ,  Martins Rui Paulo (Department of ECE, Faculty of Science of Technology, University of Macau, Macao, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ESSCIRC  ページ： 239-242  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： MSB間の利得誤差と橋DAC構造によるSAR(逐次近似レジスタ)ADCにおけるLSBアレイを補正するために,コード欠落検出(MCD)スキームに基づく較正法を検討した。MCDアルゴリズムはキャリブレーションディジタルオーバヘッドを有意に低下させることを簡単な失われた符号数と利得係数計算を置き換える。も試験信号の線形性要求を軽減する,簡単なチャージポンプ回路を試験信号発生器として利用できる(TSG)。提案したキャリブレーションを備えた80MS/s11ビットSARA DCを65nm CMOSにおける一体化していた。外部較正信号を必要とせず,測定結果は,キャリブレーションがDC入力周波数で55.7dBから63dB~7.3dBによるA DCのSNRを向上させることができることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 逐次近似 ,  レジスタ ,  周波数 ,  *試験信号 ,  線形性 ,  CMOS ,  信号発生器 ,  アルゴリズム
準シソーラス用語： チャージポンプ回路 ,  *利得誤差 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  電源回路  (NC05060Q)

タイトルに関連する用語 (5件)： ビット ,  DC ,  SN比 ,  利得誤差 ,  キャリブレーション