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J-GLOBAL ID：201702266604198431   整理番号：17A0385984

X線CCDカメラに基づくX線ミクロCTシステムの開発

Development of X-ray CCD camera based X-ray micro-CT system

著者 (8件)： Sarkar Partha S. (Technical Physics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai 400085, India) ,  Ray N. K. (Technical Physics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai 400085, India) ,  Pal Manoj K. (Technical Physics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai 400085, India) ,  Baribaddala Ravi (Technical Physics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai 400085, India) ,  Agrawal Ashish (Technical Physics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai 400085, India) ,  Kashyap Y. (Technical Physics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai 400085, India) ,  Sinha A. (Technical Physics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai 400085, India) ,  Gadkari S. C. (Technical Physics Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai 400085, India)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 88  号： 2  ページ： 023702-023702-8  発行年： 2017年02月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ミクロ集束X線源と高分解能X線エリア検出器の利用可能性は,高分解能ミクロトモグラフィの研究を,シンクロトロンの活動範囲の外側で行うことを可能にした。この論文で我々は,X線CCDカメラを検出器として使う高分解能ミクロトモグラフィでの,外部シャッタの使用に向けた作業を述べる。ミクロ計算機トモグラフィ実験の間,X線源は連続的にオンであり,CCD検出器エレクトロニクスの読み出し機構のために,検出器はそれに到達する光子を読み出し期間中もまた記録する。これは,方向が垂直シフトレジスタによって限定される,スミアとして知られる画像の中の陰様のパターンを導入する。この問題を解くために,開発したシステムをX線源の丁度前の同期シャッタと合体させた。これは画像読み出し期間中はX線ビーム経路の中に,画像取得期間中はビーム経路の外に置く。この技法は改善したデータ品質に帰着し,この故に同じことが再構成画像で反映される。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： CCDカメラ ,  X線画像 ,  *X線CT ,  開発 ,  *シャッタ ,  ビーム ,  X線

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (4件)： X線CCDカメラ ,  X線 ,  CT ,  開発