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J-GLOBAL ID：201702266678124890   整理番号：17A1005687

Cu(100)上の1,4,5,8-ナフタレンテトラカルボン酸二無水物膜の構造と電子物性間の相互作用

Interplay between Structural and Electronic Properties in 1,4,5,8-Naphthalenetetracarboxylic Dianhydride Films on Cu(100)

著者 (7件)： TONG Yongfeng (Synchrotron SOLEIL, Saint-Aubin, FRA) ,  NICOLAS Francois (Synchrotron SOLEIL, Saint-Aubin, FRA) ,  KUBSKY Stefan (Synchrotron SOLEIL, Saint-Aubin, FRA) ,  OUGHADDOU Hamid (Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA) ,  SIROTTI Fausto (Synchrotron SOLEIL, Saint-Aubin, FRA) ,  ESAULOV Vladimir (Univ. Paris-Sud, Orsay, FRA) ,  BENDOUNAN Azzedine (Synchrotron SOLEIL, Saint-Aubin, FRA)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 121  号： 9  ページ： 5050-5057  発行年： 2017年03月09日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Cu(100)上に蒸着した1,4,5,8-ナフタレンテトラカルボン酸二無水物(NTCDA)単層で得た高い方位分解能の走査型トンネル顕微鏡(STM)画像を発表した。LEEDパターンと良く一致する十分に規則化した長距離の2領域パターン構造を観察した。基板とNTCDAとの化学結合および薄膜被覆率の進展を調べるために高分解能XPS内殻準位スペクトルの詳細な適合分析を与えた。また,薄膜厚みに依存してNTCDA配向の変化に関する情報を与える,NEXAFSデータを議論する前に価電子バンドの特性を調べた。

シソーラス用語： *物理的性質 ,  *膜構造 ,  *薄膜 ,  分解能 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  画像 ,  低速電子回折 ,  内殻準位 ,  X線光電子分光法 ,  XANES ,  価電子バンド ,  基板 ,  化学結合 ,  被覆率
準シソーラス用語： *電子物性 ,  方位分解能 ,  顕微鏡画像 ,  LEED ,  XPS ,  NEXAFS ,  銅基板

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  電子物性一般  (BM01000S)

物質索引 (1件)： NTCDA

タイトルに関連する用語 (5件)： Cu ,  ナフタレン ,  テトラカルボン酸二無水物 ,  電子物性 ,  相互作用