文献

J-GLOBAL ID：201702266983163743   整理番号：17A1781723

クロック発生器に基づく産業無線干渉の放出素子のモデル化【Powered by NICT】

Modeling of the emission device of industrial radio interference based on the clock generator

著者 (4件)： Knyazev N. S. (Engineering School of Information Technologies, Telecommunications and Control Systems, Ural Federal University named after the first President of Russia B.N. Yeltsin, Yekaterinburg, Russian Federation) ,  Chechetkin V. A. (Engineering School of Information Technologies, Telecommunications and Control Systems, Ural Federal University named after the first President of Russia B.N. Yeltsin, Yekaterinburg, Russian Federation) ,  Davidov E. I. (Engineering School of Information Technologies, Telecommunications and Control Systems, Ural Federal University named after the first President of Russia B.N. Yeltsin, Yekaterinburg, Russian Federation) ,  Letavin D. A. (Engineering School of Information Technologies, Telecommunications and Control Systems, Ural Federal University named after the first President of Russia B.N. Yeltsin, Yekaterinburg, Russian Federation)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SIBIRCON  ページ： 390-393  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： クロック発生器に基づく産業無線干渉の発光デバイスのモデル化,実際の素子の電磁両立性問題の最も一般的な原因であるとした。テスト中のデバイスは印刷された導体で連結されたクロック発生器と二インバータから構成されている。シミュレーション結果は,CSTマイクロ波スタジオで得られ,標準に従って放出された干渉測定に近いシミュレーション条件であった。得られた結果は,半無響室の実際の実験と比較した。デバイスのシミュレーションと放出された場のパラメータの正確な測定は,低コストで実デバイスの半無響室で行われた測定結果にかなり正確な近似を得ることを可能にすることを示した。このような方法は,開発段階でのデバイスにおける電磁両立性問題を同定可能にするであろう。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *モデリング ,  電磁両立性 ,  無響室 ,  干渉測定 ,  導体 ,  シミュレーション ,  マイクロ波
準シソーラス用語： 発光素子 ,  *電波障害 ,  *クロック発生器 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： アンテナ  (ND06000M) ,  雑音一般  (ND04010J)

タイトルに関連する用語 (5件)： クロック発生器 ,  産業 ,  無線干渉 ,  放出 ,  モデル化