文献

J-GLOBAL ID：201702267071245362   整理番号：17A1391676

内部帯電の3次元時間依存モデルの実験による検証【Powered by NICT】

Validation Through Experiments of a 3-D Time-Dependent Model of Internal Charging

著者 (7件)： Sarrailh Pierre (DESP-Space Environment Department, ONERA, Toulouse, France) ,  Paulmier Thierry (DESP-Space Environment Department, ONERA, Toulouse, France) ,  Dirassen Bernard (DESP-Space Environment Department, ONERA, Toulouse, France) ,  Rodgers David (TEC-EES Department, ESTEC, Noordwijk, The Netherlands) ,  Santin Giovani (TEC-EES Department, ESTEC, Noordwijk, The Netherlands) ,  Cipriani Fabrice (TEC-EES Department, ESTEC, Noordwijk, The Netherlands) ,  Payan Denis (DCT/TV/EL Department, CNES, Toulouse, France)
資料名： IEEE Transactions on Plasma Science  (IEEE Transactions on Plasma Science)
巻： 45  号： 9  ページ： 2566-2572  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0036B  ISSN： 0093-3813  CODEN： ITPSBD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誘電伝導率の新しいモデルをSPIS ICに実装した。電荷輸送の時間依存性挙動と空間における現実的な放射線環境下でペイロード成分内の電気ポテンシャルのモデル化を可能にした。シミュレーション結果は単純な一次元幾何学からのd型コネクタのようなより複雑な3D成分に四種の事例に関する実験と比較した。比較は,多くの場合においてよい一致を示し,不一致がある場合に説明した。最後に,結果は,放電確率と重症度の項で解析した。本研究はまた,照射誘起伝導度の時間依存性モデリングの重要性を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *時間依存性 ,  放電 ,  ペイロード ,  一次元 ,  電位 ,  *帯電 ,  幾何学 ,  モデリング ,  *三次元 ,  コネクタ ,  放射線 ,  シミュレーション
準シソーラス用語： 重症度 ,  電荷輸送 ,  伝導率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： プラズマ応用  (BJ02110K)

タイトルに関連する用語 (6件)： 帯電 ,  3次元 ,  時間依存 ,  モデル ,  実験 ,  検証