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J-GLOBAL ID:201702267254889106   整理番号:17A0937842

ダイヤモンド/c-BN多層膜の原子構造,電子特性,一般化積層欠陥エネルギー【Powered by NICT】

Atomic structure, electronic properties and generalized stacking fault energy of diamond/c-BN multilayer
著者 (5件):
資料名:
巻:号: 47  ページ: 29599-29605  発行年: 2017年 
JST資料番号: U7055A  ISSN: 2046-2069  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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ダイヤモンド/c-BN多層膜の原子構造,電子的性質および一般化積層欠陥(GSF)エネルギーを第一原理計算により系統的に調べた。全十二の界面構造を考慮した,二c-BN終端,その各々は二ダイヤモンド終端および三積層順序を含んでいる。二つの安定な界面構造,界面近くの積層順序は,バルクダイヤモンドのそれと同じであり,界面を横切って滑らかな遷移を意味している)を同定した。いくつかの分析法を用いて,界面結合は主として混合共有-イオン的性質の,共有結合性は界面Csp状態とB.状態間の.~3ハイブリダイゼーションに由来することを見出した。界面に対するGSFエネルギー曲線の形状はバルクダイヤモンドとc-BNのそれに類似しており,その前者の不安定GSFエネルギーは後者のそれよりも小さい。界面近傍の滑り面のgenralized stacking fault(GSF)エネルギーは,界面効果により著しく変化させ,それらは滑り系に依存していることを意味している。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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表面の電子構造  ,  金属の格子欠陥 

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