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J-GLOBAL ID：201702267261403063   整理番号：17A0911366

fluoronitriles CO2混合物の有効イオン化係数と限界電界強度【Powered by NICT】

Effective ionization coefficients and limiting field strength of fluoronitriles-CO2 mixtures

著者 (4件)： Nechml H. E. (Ecole Centrale de Lyon, University of Lyon, Ampere CNRS UMR 5005, 36 avenue Guy Collongue, 69134 Ecully, France; SuperGrid Institute, 130 rue Leon Blum Villeurbanne 69611, France) ,  Beroual A. (Ecole Centrale de Lyon, University of Lyon, Ampere CNRS UMR 5005, 36 avenue Guy Collongue, 69134 Ecully, France; SuperGrid Institute, 130 rue Leon Blum Villeurbanne 69611, France) ,  Girodet A. (SuperGrid Institute, 130 rue Leon Blum Villeurbanne 69611, France) ,  Vinson P. (SuperGrid Institute, 130 rue Leon Blum Villeurbanne 69611, France)
資料名： IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation  (IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 24  号： 2  ページ： 886-892  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0578A  ISSN： 1070-9878  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ヘプタフルオロ-iso-ブチロニトリル(フルオロニトリル),フルオロニトリルCO2混合物の密度正規化有効イオン化係数と臨界絶縁破壊電場は定常状態Townsend(SST)実験装置を用いて調べ,範囲200 1066Td(Eは電場であり,ガス密度をN)からの密度正規化臨界電場(E/N)した。η(αとηはイオン化と付着係数は,それぞれ),破壊電圧測定も小さい生成物値(N×d)(D電極ギャップ)のPaschen曲線をプロットし,Paschen最小値を同定し,密度正規化臨界電場(E/N)0を検証するために行った。電極表面粗さの影響も解析した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 正規化 ,  *二酸化炭素 ,  臨界 ,  付着係数 ,  *電離係数 ,  絶縁破壊 ,  *電界強度 ,  電場
準シソーラス用語： 電極ギャップ ,  絶縁破壊電圧 ,  定常状態 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 絶縁材料  (NA04030W) ,  気体放電  (BJ03020T)

タイトルに関連する用語 (5件)： CO2 ,  混合物 ,  イオン化係数 ,  限界 ,  電界強度