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J-GLOBAL ID:201702267419769790   整理番号:17A0512004

X線表面散乱法を用いた有機薄膜の構造形成と表面・界面モルフォロジーのその場観察

X-Ray Surface Scattering and its Application to Study on Structural Evolution of Thin Soft Materials
著者 (1件):
資料名:
巻: 48  ページ: 62-72  発行年: 2017年03月31日 
JST資料番号: Z0547B  ISSN: 0911-7806  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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表面敏感X線回折・散乱手法はランダムコイル状になった高分子の慣性半径以下の膜厚を有する,いわゆる高分子超薄膜における固-液相転移(融解&結晶化)およびガラス転移の研究に際しても有用である。本稿では生分解性高分子薄膜結晶内の分子鎖の配向と結晶性の制御を目的とした微小角入射X線散乱による高分子結晶のその場観察と,X線反射率の測定により得られた非晶質ポリスチレン薄膜のガラス転移時の膜厚とHeating/Cooling rateの双方に強く依存する転移幅について紹介する。(著者抄録)
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分類 (1件):
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有機化合物の薄膜 
引用文献 (9件):

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