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J-GLOBAL ID:201702267849605027   整理番号:17A1637649

新しいサーモグラフィ法による積層と軟磁気複合材料装置における欠陥検出【Powered by NICT】

Defects detection in laminated and soft magnetic composites devices with a novel thermographic method
著者 (3件):
資料名:
巻: 2017  号: SDEMPED  ページ: 585-590  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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電磁素子の実現は材料欠陥または機械的処理によって引き起こされた磁気異常によって引き起こされた局所損失の存在を意味する可能性がある。そのような欠陥位置の問題が本研究の対象である非侵襲検査の欠陥または欠陥に関する情報を得る目的が追求されてきた。採用した手法は,特にサーモグラフィーカメラを用いた試験中のデバイスの観察に基づいている;大きさと形状デバイスにおける限界は考えられている,この方法が広く採用されることができる。磁気回路実現における欠陥の例について述べ,従来の強磁性積層板および軟磁性複合材料の両方である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (5件):
分類
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ドキュメンテーション  ,  磁気の計測法・機器  ,  ゴム・プラスチック材料試験  ,  熱交換器,冷却器  ,  生体計測 
タイトルに関連する用語 (4件):
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