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J-GLOBAL ID:201702267921543484   整理番号:17A0521897

ウルツ鉱型AlxGa1-xPナノ細線シェルの成長とラマン分光による評価

Growth of wurtzite AlxGa1-x P nanowire shells and characterization by Raman spectroscopy
著者 (5件):
資料名:
巻: 28  号:ページ: 035706,1-7  発行年: 2017年01月20日 
JST資料番号: W0108A  ISSN: 0957-4484  CODEN: NNOTER  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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金属-有機気相エピタキシー(MOVPE)法を用いて,AlGaPナノ細線(NW)シェルをウルツ鉱(WZ)型GaP NWコア上に成長させるための成長パラメータを示した。走査透過電子顕微鏡(STEM)のエネルギー分散X線分光(EDX)を用いてAl組成を決定し,ラマン分光を用いてWZ GaP/AlGaP/GaPコア-シェルNWについて測定した。その後,WZ試料とせん亜鉛鉱(ZB)型AlGaPのフォノンスペクトルを,ZB AlGaP結晶の格子振動に関する文献からの理論モデルを用いて比較した。結果は,WZ AlGaPのフォノンエネルギーは,最大0.28のAl濃度をもつZB AlGaPのものよりもわずかに小さかった。
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分類 (1件):
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半導体薄膜 

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